技術簡介： 本發明涉及一種熱膨脹系數的測定方法。該測定方法包括確定待測樣品的由單位溫度變化引起的光譜峰移動量，計為χF；將待測樣品和聚合物進行混合得到混合物，將混合物超聲分散得到復合材料；用應…… 查看詳細 >
技術簡介： 本發明公開了一種用于測量晶體分辨率的實驗平臺，包括底座；兩個探測器，兩個所述探測器分別可移動地安裝在所述底座上，并且兩個所述探測器的檢測端面對面設置；晶體座，所述晶體座上端設有用于…… 查看詳細 >
技術簡介： 本實用新型涉及計算機控制技術領域，具體涉及一種X射線冷光計算機斷層掃描實驗系統，本實用新型包括：環形軌道，所述環形軌道上接有直線軌道，所述直線軌道的兩末端分別與環形軌道相接，所述環…… 查看詳細 >
技術簡介： 本發明涉及計算機控制技術領域，具體涉及一種X射線冷光計算機斷層掃描實驗系統，本發明包括：環形軌道，所述環形軌道上接有直線軌道，所述直線軌道的兩末端分別與環形軌道相接，所述環形軌道上…… 查看詳細 >
技術簡介： 本實用新型涉及X光成像技術領域，具體涉及一種微聚焦X光源類同軸相襯成像自動化系統，本實用新型包括旋轉平臺，該旋轉平臺中部設有樣品臺，該樣品臺的外側設有微焦點光源件；該微焦點光源件的數…… 查看詳細 >
技術簡介： 一種錐束CT掃描成像方法，包括以下步驟：平移探測器，使成像視場覆蓋被掃描物體至少一半的部分；對被掃描物體進行掃描，得到投影圖像序列集；根據所述投影圖像序列集進行圖像重建。上述錐束CT掃…… 查看詳細 >
技術簡介： 本發明公開了一種測量晶體本征分辨率的實驗裝置，包括工作臺、放射檢測裝置、探測裝置和處理裝置，放射檢測裝置包括安裝座、放射源和第一探測器，安裝座包括X軸移動組件和Z軸移動組件，探測裝置…… 查看詳細 >
技術簡介： 一種太赫茲波探測裝置，包括放置待檢測樣品的樣品臺，置于第一離軸橢圓面鏡和第二離軸橢圓面鏡的公共焦點；太赫茲波輻射源，置于所述第一離軸橢圓面鏡的另一個焦點上，用于發出太赫茲波；第一離…… 查看詳細 >
技術簡介： 一種毫米波樣品檢測系統，包括毫米波信號收發模塊、二維平移臺及控制模塊；所述毫米波信號收發模塊用于生成并發送樣品掃描成像所需要的毫米波信號，接收并處理樣品反射回來的毫米波信號；所述二…… 查看詳細 >
技術簡介： 一種燈檢機，其包括承載裝置和驅動裝置，載裝置包括承載板、穿過承載板的多個旋轉托盤，以及與旋轉托盤對應的多個夾持機構。旋轉托盤和夾持機構用于配合固定待測物體。驅動裝置用于驅動旋轉托盤…… 查看詳細 >
技術簡介： 一種夾持裝置包括夾持部件和旋轉部件，夾持部件包括連桿、固定塊、第一軸承、旋轉塊、止擋塊以及彈性元件；固定塊固定在連桿的一端，且固定塊上開設有收容部，第一軸承鑲嵌固定在收容部內，旋轉…… 查看詳細 >
技術簡介： 一種基于機器視覺的表面缺陷檢測裝置，包括：框架；及光源機構，設置在所述框架的底部；所述光源機構包括：固接在所述框架底部的調節單元，以及設置在所述調節單元上的光源；圖像采集機構，設置…… 查看詳細 >