[00091319]一種用于測量晶體分辨率的實驗平臺
技術詳細介紹
本發明公開了一種用于測量晶體分辨率的實驗平臺，包括底座；兩個探測器，兩個所述探測器分別可移動地安裝在所述底座上，并且兩個所述探測器的檢測端面對面設置；晶體座，所述晶體座上端設有用于安放晶體的卡接部，所述晶體座安裝在所述底座上，并且位于兩個所述探測器之間；以及處理裝置分與兩個探測器電信號連接。由于兩個探測器分別位于晶體座的兩側，使得兩個探測器可同時對晶體座上的晶體進行探測，獲取晶體上閃爍光的光信號并將其轉化為電信號，處理裝置獲取兩個探測器分別轉化的電信號，根據兩個電信號可計算出閃爍光子在晶體上的具體位置，再通過該具體位置得出的測量響應曲線更加接近實際響應曲線，即提高了測量的分辨率。
