本發明涉及計算機控制技術領域,具體涉及一種X射線冷光計算機斷層掃描實驗系統,本發明包括:環形軌道,所述環形軌道上接有直線軌道,所述直線軌道的兩末端分別與環形軌道相接,所述環形軌道上活動設置有第一支架,所述第一支架上設有相機,所述相機朝向環形軌道的內側,所述直線軌道上分別活動設置有第二支架和第三支架,所述第二支架上設有X射線源,所述第三支架上設有樣品存放部,所述X射線源的發光端設置于樣品存放部的前方,且與該樣品存放部相對準,所述樣品存放部的后方設有X射線探測器。本發明在不傷害實驗人的情況下,可以對成像系統進行操作,不用反復開關X射線源,從而解決實驗操作不便的問題。