聯系人: 中科院蘇州納米技術與納米仿生研究所
所在地: 江蘇蘇州市
摘要:本發明公開了一種薄膜晶體管及其制備方法。該晶體管采用頂柵底接觸式結構,包括有源層、源電極、漏電極、絕緣層和柵電極,其中絕緣層與有源層之間還設有界面修飾層;該晶體管的制備方法包括:在基底上設置有源層;在所述有源層表面設置源電極和漏電極;在所述有源層表面及源電極和漏電極上修飾界面修飾材料,形成界面修飾層;在所述界面修飾層上設置絕緣層;以及,在所述絕緣層上設置柵電極。本發明通過對薄膜晶體管中的有源層進行界面修飾,能夠極大的降低晶體管的關態電流,并提高開關比,同時通過采用頂柵底接觸式的結構,還使得晶體管的穩定性得到很大的提高。