交易價格: 面議
所屬行業: 檢測儀器
類型: 發明專利
技術成熟度: 正在研發
專利所屬地:中國
專利號:CN201610480725.4
交易方式: 完全轉讓 許可轉讓 技術入股
聯系人: 中國科學院深圳先進技術研究院
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所在地: 廣東深圳市
本發明公開了一種芯片單粒子效應探測方法及裝置,其中方法包括:將待測芯片放入測試機臺,觸發待測芯片產生單粒子效應;利用使能信號隨機關斷待測芯片的掃描寄存器,形成隨機觀測矩陣;向待測芯片輸入測試向量,獲得待測芯片的輸出測試向量,根據輸出測試向量獲得錯誤總數向量;對錯誤總數向量進行壓縮感知信號重構,確定待測芯片內部敏感區域。本發明可以高效、便捷地對芯片單粒子效應進行探測。
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