交易價格: 面議
所屬行業: 分析儀器
類型: 發明專利
技術成熟度: 正在研發
專利所屬地:中國
專利號:CN201410816610.9
交易方式: 完全轉讓 許可轉讓 技術入股
聯系人: 中國科學院深圳先進技術研究院
進入空間
所在地: 廣東深圳市
本發明提供了一種磁共振彌散張量成像的去噪方法和系統,其方法基于磁共振彌散加權成像模型和采樣噪聲的高斯分布性質,利用平均彌散率的稀疏性,采用最大后驗概率估計的方法直接由K空間數據獲得每一個空間位置所對應的去噪后的彌散張量矩陣。本發明可以避免圖像去噪的誤差對彌散張量估計的影響,可以更有效地抑制彌散張量中的噪聲,提高彌散張量的估計精度。
在線交易系統
技術評估
Copyright © 2019 天長市科技大市場 版權所有
地址:滁州高新區經三路
皖ICP備2023004467