交易價格: 面議
所屬行業: 分析儀器
類型: 發明專利
技術成熟度: 正在研發
專利所屬地:中國
專利號:CN201410856519.X
交易方式: 完全轉讓 許可轉讓 技術入股
聯系人: 中國科學院深圳先進技術研究院
進入空間
所在地: 廣東深圳市
本發明提供了一種單幅圖像中去除雨滴影響的方法和系統,其方法包括:基于經驗模式分解法對待處理圖像進行圖像分解,提取所述待處理圖像的高頻部分,形成體現所述高頻部分信息的高頻特征圖;識別所述待處理圖像中圖像元素的邊緣,獲得特征輪廓圖;利用圖像形態學操作對所述邊緣內的圖像區域進行處理,獲得第一中間圖像;從所述高頻特征圖中減去所述第一中間圖像,獲得雨線特征圖;將所述待處理圖像與所述雨線特征圖相減,獲得去雨后的圖像。本發明有效提高了圖像的處理速度。
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