交易價格: 面議
所屬行業: 分析儀器
類型: 發明專利
技術成熟度: 正在研發
專利所屬地:中國
專利號:CN201510997885.1
交易方式: 完全轉讓 許可轉讓 技術入股
聯系人: 中國科學院深圳先進技術研究院
進入空間
所在地: 廣東深圳市
本申請公開了一種探測器晶體陣列分辨圖處理方法,包括:產生測量信號;讀出晶體陣列的測量信號;基于所述測量信號,進行權重調整,提高大能量單元的權重,計算晶體分辨圖。本申請還公開了一種探測器晶體陣列分辨圖處理裝置。本申請通過調整單元的權重,提高大能量單元的權重,從而降低信噪比小的單元的影響,能有效提高探測器晶體分辨圖的質量。
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