[00090488]掃描極化力顯微鏡成像對比度的調控方法
技術詳細介紹
摘要：本發明公開了一種掃描極化力顯微鏡成像對比度的調控方法，包括步驟將納米材料制備在襯底表面上，獲得待測樣品；控制測試環境的相對濕度在10％～90％內逐漸變化，并利用掃描極化力顯微鏡對待測樣品進行表征測試，獲得掃描極化力顯微鏡圖片；在獲得的圖片中，納米材料的表觀高度隨相對濕度的變化而變化，且出現正值和負值間的轉變；挑選納米材料的表觀高度為0nm時對應的相對濕度，確定為臨界濕度點；選取低于臨界濕度點的相對濕度作為成像對比度的合適測試濕度。該調控方法用于獲得穩定準確且重復性高的表征結果，有利于圖像分析。本發明還公開了另一調控方法，不僅能夠獲得良好的表征測試結果，還可用于分辨至少兩種形貌相同但電學性質不同的納米材料。
