[00090380]熒光散射光學斷層成像系統及方法
技術詳細介紹
本發明公開了一種熒光散射光學斷層成像系統及方法，該系統包括：載物臺，用于承載樣品，所述樣品被植入納米材料，所述納米材料經X射線照射發出冷光，經激光照射發出熒光；X射線源，用于向所述載物臺上的樣品發射X射線；X射線平板探測器，用于獲得所述樣品經X射線照射的CT成像；EMCCD，用于獲得所述樣品經X射線照射的XLCT成像；激光器，用于向所述樣品發射激光；所述EMCCD還用于獲得所述樣品經激光照射的激光圖像和熒光圖像，所述激光圖像、熒光圖像和CT成像用于重建FDOT成像。本發明可以獲得較為準確的深度信息，降低重建難度且縮短數據采集周期。
