交易價格: 面議
所屬行業: 檢測儀器
類型: 發明專利
技術成熟度: 正在研發
專利所屬地:中國
專利號:CN201210430443.5
交易方式: 完全轉讓 許可轉讓 技術入股
聯系人: 中國科學院深圳先進技術研究院
進入空間
所在地: 廣東深圳市
本發明涉及磁共振成像技術領域,提供了一種磁共振并行成像方法。 所述磁共振并行成像中對磁共振并行成像問題的求解包括三部分:傳統并行成像部分、低秩約束部分和稀疏約束部分。本發明還提供了一種磁共振成像儀,所述磁共振成像儀采用前述的磁共振并行成像方法進行成像。本發明提出的基于稀疏約束和低秩約束的磁共振并行成像方法,在傳統單一的磁共振并行成像方法基礎之上,同時利用目標信號的稀疏性和低秩性,磁共振并行成像進一步約束并行成像問題的解空間,減少采樣點的個數,在保證重建圖像質量的同時提高成像速度。
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