本[發明專利]公開了一種全景圖像拼接最優縫合線搜索方法,包括步驟構建兩個圖像A和圖像B的顏色差圖YSAB和結構差圖JGAB;建立最小化顏色差值和結構差值的縫合線搜索模型;運用遺傳算法求解步驟A2中的兩個縫合線搜索模型,得到一組Pareto(帕累托)最優的縫合線集合;運用圖像質量評價算法,從縫合線集合中選出一條最優的縫合線。本[發明專利]以最小化圖像的顏色差和結構差為目標,構造最優縫合線搜索模型,避免無法合理定義圖像差異的問題,此外通過縫合線搜索模型,找出一組Pareto最優的縫合線集合,利用圖像質量評價算法,針對不同縫合線下的拼接結果,選擇出最好的全景拼接圖,該全景拼接圖所對應的縫合線即為最優縫合線。本[發明專利]創造用于搜索兩圖像的最優縫合線。