[00068460]一種光子型微波頻率測量方法及裝置
技術詳細介紹
本發明公開了一種光子型微波頻率測量方法及裝置，方法為：在寬頻帶全頻率測量范圍進行低分辨率的頻率測量，測得反應待測微波信號頻段的反饋電壓；在反饋電壓的作用下，對待測微波信號進行高分辨率的頻率測量；裝置包括光信號產生器、耦合模塊、載波抑制雙邊帶調制模塊、載波相移調制模塊、第一耦合器、單模光纖、第二耦合器、兩光探測器和功率比較及數模轉換模塊。本發明利用兩測得的光載微波功率相除得到功率比較函數（ACF）與待測微波信號的頻率fe及光信號相移量φ之間的關系，并通過測量反饋電壓改變光信號相移量φ，從而對待測微波頻率進行局部頻率高分辨率測量，實現了在寬頻帶全頻率范圍對待測微波信號進行高分辨率測量的目的。
