[00059387]基于干涉條紋圖處理測量透明介質折射率分布的方法
技術詳細介紹
本發明涉及一種基于干涉條紋圖的處理來測量透明介質折射率分布的方法，屬于物質折射率測量技術領域。該方法是利用立體分光棱鏡分光面干涉產生干涉條紋圖，再通過計算改變輸入光透過待測樣品與參考介質的光程差所產生的干涉條紋移動數來進行待測透明介質折射率分布的測量；以及提供實現測量方法的測量裝置。本發明測量方法不僅可對均勻透明介質折射率進行更高精度測量；而且還能對非均勻透明介質折射率分布進行測量。本發明的測量方法及其測量裝置在保證測量精度和穩定性的前提下，還具有減少測量次數，縮短測量時間，以及簡化數據處理的優點。
