聯系人: 華南理工大學
所在地: 廣東廣州市
摘要:本發明公開了生長在Si襯底上的InN納米柱外延片,由下至上依次包括Si襯底、In金屬納米微球層和InN納米柱層。所述In金屬納米微球層中的In金屬納米微球的直徑為20?70nm。所述InN納米柱層中InN納米柱直徑為40?80nm。本發明還公開了生長在Si襯底上的InN納米柱外延片的制備方法。本發明的納米柱直徑均一,同時解決了InN因與Si之間存在較大晶格失配而在其中產生大量位錯的技術難題,大大減少了InN納米柱外延層的缺陷密度,有利提高了載流子的輻射復合效率,可大幅度提高氮化物器件如半導體激光器、發光二極管的發光效率。