聯系人: 華南理工大學
所在地: 廣東廣州市
摘要:本發明公開了一種VDMOS晶體管及制備方法,屬于半導體領域,包括第一導電類型襯底、第一導電類型外延層、位于外延層內的第二導電類型注入區和第一導電類型的高摻雜源區、柵極結構,所述柵極結構包括:位于外延層漂移區上方的柵極絕緣層,位于柵極絕緣層上方的半絕緣多晶硅層,位于溝道區上方的氮氧化硅層,覆蓋半絕緣多晶硅層和氮氧化硅層的多晶硅層;在制備方法中引入熱氮化氮氧化硅層,代替傳統二氧化硅層作為溝道上柵介質層,在外延層漂移區上方的氧化層之上,增加一層半絕緣多晶硅層,本發明能夠明顯降低柵-漏電容和達到克服因長期工作溫升引起的柵絕緣層絕緣性能變差、柵極漏電流變大、VDMOS性能蛻化的可靠性問題的效果。