聯系人: 河北大學
所在地: 河北保定市
摘要:本發明提供了一種電荷俘獲存儲器及其制備方法。所述電荷俘獲存儲器的結構由下至上依次是p?Si襯底、SiO2隧穿層、Zr0.5Hf0.5O2膜層和電極膜層;所述電極膜層為Au或Pt電極膜層;所述Zr0.5Hf0.5O2膜層是在p?Si襯底上通過磁控濺射所制成,所述SiO2隧穿層是在形成所述Zr0.5Hf0.5O2膜層后通過退火工藝而形成,所述電極膜層是在所述Zr0.5Hf0.5O2膜層上通過真空蒸鍍而形成。本發明通過控制退火溫度和退火時間,可得到厚度適中的SiO2隧穿層,合適厚度的SiO2隧穿層和Zr0.5Hf0.5O2膜層中的氧空位對器件有很大的影響,可使器件表現出良好的存儲特性和保持特性。