交易價格: 面議
所屬行業: 自動化元件
類型: 發明專利
專利所屬地:
專利號:CN201810036773.3
交易方式: 完全轉讓
聯系人:
所在地: 天津天津市
本發明提供一種半導體垂直結構和半導體器件的制造方法,至少在半導體材料層的表面上覆蓋一金屬催化劑層后,再以所述圖案化掩膜為掩膜,在金屬催化劑層的催化作用下對所述半導體材料層進行刻蝕,以形成半導體垂直結構,能夠較為精確地控制形成的半導體垂直結構的關鍵尺寸,改善半導體垂直結構的線條粗糙度,進而提高具有該半導體垂直結構的半導體器件的性能,適用于微米級或納米級的半導體垂直結構的制造。
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