交易價格: 面議
所屬行業: 其他儀器儀表
類型: 專利
技術成熟度: 正在研發
專利所屬地:中國
專利號:2015104649114
交易方式: 完全轉讓
聯系人: 桂林理工大學
所在地: 廣西壯族自治區桂林市
本發明公開了一種測量經緯儀高度的方法。該方法運用光的反射原理。將經緯儀在測量基點上對中整平后,在距測量基點一定距離處樹立一把垂直塔尺,塔尺上放置一塊反光體。通過反光體沿塔尺上下移動可以從經緯儀目鏡中觀測到基點在反光體中成的像,由光入射角與反射角相等關系和平行線間夾角關系可以求出經緯儀水平軸到基點的距離,即儀器高度。本發明原理簡單明確、材料簡單廉價、操作簡便、精度高、易掌握、便于工程運用。
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