[00046631]單點去卷積顯微系統與成像方法
聯系人： 哈爾濱工業大學
所在地： 黑龍江哈爾濱市
- 服務承諾
- 產權明晰
-
資料保密
對所交付的所有資料進行保密
- 如實描述
技術詳細介紹
摘要：本發明單點去卷積顯微系統與成像方法屬于光學顯微測量領域；該顯微系統包括螺旋相位板等元件；第一平行光最終在熒光樣品上形成環形光斑；第二平行光最終在熒光樣品上形成圓形光斑；熒光樣品表面激發出的熒光被光電探測器接收并成像；在上述單點去卷積顯微系統上實現的成像方法，首先得到坐標為(i,j)的物點的灰度值sumi,j，再通過移動熒光樣品，遍歷i和j的所有取值，利用所有物點的灰度值信息，構造完整的二維圖像；本發明與傳統STED技術的不同在于在不同時刻照射兩束波長相同的激光束，并利用兩幅圖像求差來縮小感興趣區域的范圍，同時引入去卷積運算，去除非焦平面上的模糊，減少探測器的卷積效應帶來的測量誤差，最終提高成像系統的分辨率。
