[00046484]佳拉潔雅磁阱結構下測量等離子體時間參數的裝置及方法
聯系人： 哈爾濱工業大學
所在地： 黑龍江哈爾濱市
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技術詳細介紹
摘要：本發明提供佳拉潔雅磁阱結構下測量等離子體時間參數的裝置及方法；包括以下步驟步驟A10在等離子體進入磁阱之前，為電探針通電，開始得到4個電探針所對應的模擬電流，并輸出實時I?t特性曲線；步驟A20計算等離子體未進入磁阱空間時的電探針初始電流I0；步驟A30依據實時I?t特性曲線，計算四個電探針流過電流最大的時間t1、t2、t3、t4，即為等離子體經由溜槽線圈進入磁阱內部的時間；步驟A40依據步驟A30得到的電探針流過電流最大的時間t1、t2、t3、t4，來計算等離子體填充時間Tf；步驟A50依據步驟A20中計算出的I0，計算等離子體逃逸時間步驟A60依據在步驟A40中計算的等離子體填充時間Tf，和在步驟A50中計算的等離子體逃逸時間計算等離子體約束時間Tc。
