交易價格: 面議
所屬行業: 機械檢測
類型: 專利
技術成熟度: 正在研發
專利所屬地:中國
專利號:CN200510120663.8
交易方式: 完全轉讓
聯系人: 許恩平
所在地: 廣東廣州市
本發明涉及一種球面反射鏡的雙點源干涉檢測方法及其裝置,所述檢測方法包括獲取平行光,選出雙點源,光束經平面反射返回,光束經球面反射返回,返回光束輸出,球面反射鏡誤差檢測的步驟,所述方法使用的裝置包括光源、光束處理裝置、光柵、凸透鏡、透反平面鏡、空間濾波器、小平面反射鏡、球面反射鏡安裝調節平臺、像屏和攝像機,所述器件安裝于器件夾持調節裝置上。本發明精度高,對振動、溫度、氣流敏感小,穩定性高,易于操作并能推廣應用。
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