[00011569]多功能芯片檢測裝置
技術詳細介紹
一種多功能芯片檢測裝置，包括一機架及供芯片放置的芯片平臺，還包括：檢測光路模塊、光路倒置機構和控制接口系統；所述的光電檢測模塊中的檢測光路在芯片平臺的上方，且所述的光路切換開關的反射鏡在光路中時，可以完成陣列芯片的共聚焦掃描；所述的光電檢測模塊中的檢測光路在芯片平臺的下方時，且所述的光路切換開關的反射鏡在光路中時，可以完成微流控芯片的激光誘導熒光檢測；所述的光電檢測模塊中的檢測光路在芯片平臺的上方，且所述的光路切換開關的反射鏡移出光路時，可以完成陣列芯片的CCD掃描；本發明適用范圍廣，檢測光路調整靈活，數據處理由計算機自動完成。
已進入中試階段。
應用領域
可應用于生命科學的分子領域、微生物檢測領域、醫學檢測領域和化學分析領域
主要技術指標情況：
可以完成陣列芯片的共聚焦掃描；微流控芯片的激光誘導熒光檢測；陣列芯片的CCD掃描。檢測光路調整靈活；數據處理由計算機自動完成。
知識產權及已應用情況（如申請專利請注明專利號）
在審發明專利：
多功能芯片檢測裝置.授權專利號：ZL200610024484.9
合作方式：技術入股
