[00010636]一種用硒膜修飾電極測定銅離子的方法
技術詳細介紹
專利簡介：一種用硒膜修飾電極測定銅離子的方法，采用電化學三電極測試系統和陽極溶出微分計時電勢法進行測定，以熱裂解石墨為電極基質，在稀鹽酸酸化介質中經Na2SeO3、Cu(II)還原共富集時形成的硒膜作為工作電極，其上共還原富集銅的硒化物Cu2Se，通過記錄工作電極上電勢E隨測試時間T的變化函數并進行微分處理得到dT/dE→E的微分曲線，通過微分曲線上特征響應峰的高度計算Cu(II)的含量。本發明方法克服了傳統汞電極的環境危害和劇毒性等缺點，并且具有測試靈敏度高，抗干擾性強，環保性好，成本低，流程短，便于操作，效率高的優點，可用于天然水質中微量或痕量銅離子的分析測定。
合作方式: 專利轉讓或技術指導。
